nanoMIPOS 400

  • 400μm Fokussierbereich und sub-nm-Schrittweite
  • Objektivdurchmesser bis 39mm
  • temperaturkompensiertes Design
  • kurze Einschwingzeiten aufgrund hoher Steifigkeiten
  • universeller Einsatz durch Gewindeadapter
  • integrierter Positionssensor optional
  • Einsatz in Standard- und Inversmikroskopie
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Beschreibung

Der nanoMIPOS 400 bietet einen Positionier- und Scanbereich bis zu 400µm im ungeregelten und 320µm im geregelten Betrieb. Das System kann mit Objektiven von bis zu 39mm Durchmesser eingesetzt werden.

Das hochentwickelte monolithische Führungsdesign, bestehend aus massiven Festkörpergelenken, bewirkt, dass die Bahnkurve frei von mechanischem Spiel und Reibung ist – eine Eigenschaft, die alle piezosystem jena Systeme bieten.

Das Führungsdesign des nanoMIPOS 400 ist FEM-optimiert um ein Minimum an seitlichem Versatz und Verkippung, sowie eine exzellente Bahntreue zu erreichen. Dabei verhält sich das System äußerst robust gegenüber außermittiger und lateraler Belastung.

Als Option sind integrierte Positionssensoren für den nanoMIPOS 400 erhältlich, die in Verbindung mit der entsprechenden Regelelektronik die Drift- und Hystereseffekte eliminieren.
In Kombination mit einem piezosystem jena Controller bietet das System im geregelten Betrieb hohe Stabilität, Linearität und Wiederholbarkeit.

Technische Daten

MIPOS SerieEINHEITnanoMIPOS 400nanoMIPOS CAP
Art. # für GewindeM25 x 0.75O-543-00O-543-06
W0.8 x 1/36″ (RMS)O-544-00O544-06
M26 x 0.75O-545-00O-545-06
M27 x 0.75O-546-00O-546-06
M32x0.75O-547-00O-547-06
AchseZZ
Hub Open Loop (±10%)*μm400400
Hub Closed Loop (±0,2%)*μm320
Auflösung Open Loop**nm0.80.8
Auflösung Closed Loop**nm1
Maße (L x B x H)mm65 x 45 x 4065 x 45 x 40
Gewichtg300315
*Typischer Wert mit 30DV50 nanoX Controller gemessen. **Auflösung nur durch das Rauschen von Verstärker und Messtechnik begrenzt.

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