Mikroskopie

Lösungen für eine Vielzahl von optischen Anwendungen

Die Ausrichtung von Mikroskopobjektiv und Probe erfordert präzise und schnelle Bewegungen. Basierend auf dem inversen piezoelektrischen Effekt bieten die Produkte von piezosystem jena einzigartige technische Eigenschaften im Vergleich zu anderen Lösungen auf dem Markt. Sie zeichnen sich durch eine nahezu unbegrenzte Verfeinerung der Bewegung bei gleichzeitiger Vermeidung von mechanischem Spiel aus. So sind sie völlig resistent gegen innere Reibung.

piezosystem jena ist seit langem für OEMs und Partner in der Mikroskopieindustrie tätig, indem es Piezoaktoren für spezifische Kundenanforderungen entwickelt und anpasst.

Die piezosystem jena MIPOS Objektivpositionierer bieten bis zu 600 Mikrometer z-Bewegung mit sub-nm Auflösung.  Die Bewegung des MIPOS zeichnet sich durch eine präzise Parallelbewegung innerhalb der optischen Achse aus.  Darüber hinaus können diese Objektivpositionierer Objektive aller gängigen Hersteller aufnehmen, darunter:

  • Zeiss
  • Nikon
  • Leica
  • Olympus

Ein einzigartiges Merkmal der MIPOS-Objektivpositionierer ist ihre extrem hohe Steifigkeit.  Dadurch können sie für eine invertierte Betätigung konfiguriert werden.

Mipos 100

MIPOS Objektivpositionierer

Wenn Sie ein Objektiv in mehr als nur der z-Richtung bewegen möchten, haben wir eine 3-Achsen-Lösung für Sie: unser TRITOR® 102, ein 3-Achsen-Tisch mit Gewinde für Ihr Objektiv.  Der TRITOR® 102 bietet eine Bewegung von bis zu 100 Mikrometern in x-, y- und z-Richtung mit Auflösung im Nanometerbereich.

Wenn Sie nicht Ihr Objektiv, sondern Ihre Probe bewegen möchten, haben wir eine große Auswahl an Tischen, die alle Ihre Anforderungen erfüllen können.  Unsere Tische können in bis zu 5 Achsen bewegt werden, sind mit zentralen Öffnungen für die inverse Mikroskopie ausgestattet und können unter Vakuum- oder zyrogenen Bedingungen verwendet werden.

MIPOS-Piezopositionierer können verwendet werden für:

  • einfache Mikroskopie
  • Rasterelektronenmikroskopie (SEM)
  • konfikale Mikroskopie
  • Invertierte Mikroskopie
  • STED Microskopie
  • Fluoreszenz-Mikroskopie
  • STORM Imaging
  • Rasterkraftmikroskopie (AFM)
  • Weißlicht-Interferometrie

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